Datenanalyse in der industriellen Anwendung (DIA)

Priv.-Doz. Dr. Detlef Nauck, BT

Seminar, 2 SWS, (benoteter) Schein

Das Seminar wird als Blockseminar am 11.Juli 2008 abgehalten, voraussichtlich im Raum E036 (IWS-Labor).

Studienfächer / Studienrichtungen: WIF, IF, DKE, CV, CSE ab 5.Semester

Sprache: Englisch/Deutsch, nach Abstimmung mit den Teilnehmern

Maximale Teilnehmerzahl: 10

Anmeldung: abgelaufen Bis zum 14. April 2008 per e-mail an detlef.nauck@bt.com

Jede(r) Seminarteilnehmer(in) erhält ein Thema und Literatur zum Einarbeiten. Es sind eine Literaturrecherche durchzuführen, eine kurze Ausarbeitung anzufertigen und schließlich während der Veranstaltung ein 30-45 Minuten langer Vortrag zu halten.

Datenanalyse stellt in der industriellen Anwendung eine besondere Herausforderung dar. Es sind nicht nur geeignete Verfahren aus der Statistik, dem Maschinellen Lernen oder dem Data Mining auszuwählen, sondern auch Probleme des Datenzugriffs, der Datenqualität und der Umsetzung der Analyseergebnisse zu betrachten. Das Seminar befaßt sich mit ausgewählten Themen aus diesem Bereich.